HF-S80
實驗室用精巧 4 軸。載台約 500×500 mm,射源 90 kV(選配 110/130 kV)。
- 2D real-time
- X-Mind
Wahfei 固定微焦點系統,用於實驗室與抽樣 NDT:非破壞檢測 BGA、QFN、SMT、電池與精密零件。

Wahfei 離線 X-Ray — 偵測隱藏缺陷的微焦點設備:BGA/QFN 的 void 與偏移、SMT/DIP 焊點缺陷、鋰電芯、電容與精密零件檢測。
下方為各機種典型規格;射源、載台與運動機構依檢測課題確認。
實驗室用精巧 4 軸。載台約 500×500 mm,射源 90 kV(選配 110/130 kV)。
中型 6 軸:大型載台,選配 360° 旋轉,適用 SMT、DIP 與 IC。
高功率 6 軸、傾斜 ±60° 與大型載台,適用複雜檢測。
半導體與 SMT 用開放微焦點管 160 kV。載台 600×600 mm,荷重 20 kg,X-Mind。
離線 2D 即時 NDT 機櫃:90 kV(選配 110/130),載台 400×400 — 半導體與車用電子。
大型工業組件用大型載台 1200×600 mm、5 軸、90 kV(選配 110/130)。