離線 X-Ray

Wahfei 固定微焦點系統,用於實驗室與抽樣 NDT:非破壞檢測 BGA、QFN、SMT、電池與精密零件。

實驗室中的 Wahfei 離線 X-Ray

用途

Wahfei 離線 X-Ray — 偵測隱藏缺陷的微焦點設備:BGA/QFN 的 void 與偏移、SMT/DIP 焊點缺陷、鋰電芯、電容與精密零件檢測。

  • 微焦點射源 90–130 kV
  • 高解析度平板 Detector
  • CNC 定位與導航
  • 附帶 X-Mind 軟體

下方為各機種典型規格;射源、載台與運動機構依檢測課題確認。

系列機種

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HF-S80

實驗室用精巧 4 軸。載台約 500×500 mm,射源 90 kV(選配 110/130 kV)。

  • 2D real-time
  • X-Mind
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HF-S90

中型 6 軸:大型載台,選配 360° 旋轉,適用 SMT、DIP 與 IC。

  • SMT / DIP / IC
  • 鋰電/車用
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HF-S100

高功率 6 軸、傾斜 ±60° 與大型載台,適用複雜檢測。

  • 射源最高 130 kV
  • 多點 CNC
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HF-S160

半導體與 SMT 用開放微焦點管 160 kV。載台 600×600 mm,荷重 20 kg,X-Mind。

  • 160 kV open-tube
  • 半導體/SMT
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HF-XC9100

離線 2D 即時 NDT 機櫃:90 kV(選配 110/130),載台 400×400 — 半導體與車用電子。

  • 2D 即時機櫃
  • 90 / 110 / 130 kV
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大型工業組件用大型載台 1200×600 mm、5 軸、90 kV(選配 110/130)。

  • 載台 1200×600
  • 5 軸/CNC

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