X線検査の導入事例

欠陥とNDT課題の実画像。顧客匿名。構成:現象 → リスク → 方法 → 推奨Wahfei機種(重点6機種)。

検査例

SMT BGAのX線検査

エレクトロニクス · 匿名事例

SMT / BGA検査

現象:BGA/SMTのボイドとはんだ不良。リスク:組立後の隠れ故障。方法:オフライン2D X線。

HF-S90 HF-S100

類似課題の相談
コールドはんだのX線検出

民生エレクトロニクス · 匿名事例

コールドはんだ / はんだ不足

現象:小型パッケージのコールドはんだ疑い。リスク:接触不安定。方法:はんだのX線検査。

HF-S90 HF-S100

類似課題の相談
コンデンサ欠陥のX線

受動部品 · 匿名事例

コンデンサ欠陥

現象:パッケージまたはリード内部の損傷。リスク:ロット内の早期故障。方法:2D X線解析。

HF-S90 HF-S100

類似課題の相談
タンタルコンデンサCT解析

産業用CT · 匿名事例

タンタルコンデンサCT

現象:内部構造の体積評価が必要。リスク:2Dでは不足。方法:産業用CT(パッケージ/FA)。

HF-S180

類似課題の相談
LEDパッケージのX線検査

オプトエレクトロニクス · 匿名事例

Package LED

現象:LEDパッケージ構造検査。リスク:隠れ異物や断線。方法:X線照射。

HF-S80 HF-S90

類似課題の相談
コネクタ構造のX線

コネクタとワイヤーハーネス · 匿名事例

Connector / interface

現象:コネクタと接続部の構造検査。リスク:内部断線・位置ずれ。方法:2D X線。

HF-S80 HF-S90

類似課題の相談

試料解析が必要な場合は課題をご記載ください。機種をご提案します。

相談を依頼
相談を依頼