HF-S80
ラボ向けコンパクト4軸。テーブル〜500×500 mm、線源90 kV(オプション110/130 kV)。
- 2D real-time
- X-Mind
ラボ/抜取NDT向けWahfei固定マイクロフォーカス:BGA、QFN、SMT、電池、精密部品を非破壊検査。

WahfeiオフラインX線 — 隠れ欠陥を検出するマイクロフォーカス装置:BGA/QFNのボイドと位置ずれ、SMT/DIPはんだ不良、リチウムセル・コンデンサ・精密部品検査。
以下は代表仕様。線源・テーブル・モーションは検査課題に応じて確定します。
ラボ向けコンパクト4軸。テーブル〜500×500 mm、線源90 kV(オプション110/130 kV)。
中型6軸:大型テーブル、SMT・DIP・IC向け360°回転オプション。
複雑検査向け高出力6軸、傾斜±60°、大型テーブル。
半導体・SMT向け開放マイクロフォーカス管160 kV。テーブル600×600 mm、耐荷重20 kg、X-Mind。
オフライン2DリアルタイムNDT筐体:90 kV(オプション110/130)、テーブル400×400 — 半導体・車載電子。
大型産業アセンブリ向け大型テーブル1200×600 mm、5軸、90 kV(オプション110/130)。