オフラインX線

ラボ/抜取NDT向けWahfei固定マイクロフォーカス:BGA、QFN、SMT、電池、精密部品を非破壊検査。

ラボ内のWahfeiオフラインX線

用途

WahfeiオフラインX線 — 隠れ欠陥を検出するマイクロフォーカス装置:BGA/QFNのボイドと位置ずれ、SMT/DIPはんだ不良、リチウムセル・コンデンサ・精密部品検査。

  • マイクロフォーカス線源 90–130 kV
  • 高分解能フラットパネル検出器
  • CNC位置決めとナビゲーション
  • X-Mindソフトウェア付属

以下は代表仕様。線源・テーブル・モーションは検査課題に応じて確定します。

シリーズ機種

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HF-S80

ラボ向けコンパクト4軸。テーブル〜500×500 mm、線源90 kV(オプション110/130 kV)。

  • 2D real-time
  • X-Mind
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HF-S90

中型6軸:大型テーブル、SMT・DIP・IC向け360°回転オプション。

  • SMT / DIP / IC
  • リチウム / 車載
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HF-S100

複雑検査向け高出力6軸、傾斜±60°、大型テーブル。

  • 線源最大130 kV
  • 多点CNC
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HF-S160

半導体・SMT向け開放マイクロフォーカス管160 kV。テーブル600×600 mm、耐荷重20 kg、X-Mind。

  • 160 kV open-tube
  • 半導体 / SMT
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HF-XC9100

オフライン2DリアルタイムNDT筐体:90 kV(オプション110/130)、テーブル400×400 — 半導体・車載電子。

  • 2Dリアルタイム筐体
  • 90 / 110 / 130 kV
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大型産業アセンブリ向け大型テーブル1200×600 mm、5軸、90 kV(オプション110/130)。

  • テーブル 1200×600
  • 5軸 / CNC

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HF-S80 / S90 / S100 / S160 / XC9100 または検査種別をご指定ください。機種選定と仕様をサポートします。

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